OCT/OFDI

OCT(光干渉断層計)・OFDI(光周波数領域画像)OCT2

概要

OCT・OFDIとは、物体内部の様子を光の干渉性を用いて非接触、非破壊で断層画像を見る技術です。
対象に光を照射し、反射光の時間遅延、強度を計測し対象の断面、表面画像を再現します。
この技術は、下図のような皮膚、眼球などの生体組織の診断、研究用途等での表面・断面検査にも採用されています。
図1 スペクトラルドメイン型 OCT(Spectral-domain OCT; SD-OCT)
図1
図2 波長掃引型 OCT(Swept source OCT; SS-OCT)

図2-1
 


 

日本デバイスでは、Optical Coherent Tomography(OCT)機器に使用される干渉計の構成部品を数多く取り揃えております。
スペクトラルドメイン OCT(Spectral-domain OCT; SD-OCT)、波長掃引型 OCT(Swept source OCT; SS-OCT)いずれにおいても、光源・パッシブ部品、検査機器などをご提案させて頂くことが可能です。

光源

波長掃引光源(Swept Source)など、様々なパッケージのSLD光源を扱っております。
1µm帯、1.3µm帯はもちろん、800~900nm帯やその他の波長域でもご提案が可能です。

INPHENIX社製  波長掃引光源(Swept Source)

キャプチャ

INPHENIX社製  波長掃引光源

INPENIX社のSOA技術によって開発された、波長掃引光源(Swept Source)は、SS-OCTやOFDRのために開発されたチューナブルレーザーです。850nm、1060nm、1310nm、1550nmの中心波長から選択できます。

 

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SLDモジュール・広帯域光源

取り扱いメーカー

ベンチトップ型・モジュール型 SLDnulogo1
Nuphoton社
Nuphoton Technologies(ニューフォトン)は、カルフォルニア州に拠点を構えるファイバレーザ及びフェムト秒レーザー製造のリーディングカンパニーです。MADE IN USAの確かな品質、業界を代表するコンパクトなデザインが特徴であり、外寸71x43x12mmの超小型パッケージ(Half MSA)の製造実績がございます。
ベンチトップ型・モジュール型 SLDamonics-2Amonics社
Amonics Limited (アモニクス)は香港に拠点を構える、光ファイバアンプ・ファイバレーザ光源製品の製造会社です。豊富な経験・技術力を持つファイバレーザの研究者・技術者らによって 2002年に設立され、特殊用途向けのカスタムモデルや、研究・開発用のハイエンド製品の設計・製作を得意としてきました。

バタフライ型・CAN型・モジュール型 SLDinphenixINPHENIX社
SLD/SOAを中心に高品質な光源を生産するアメリカを拠点とするメーカーです。カリフォルニア州のINPHENIX製造工場は、ISO9001:2008の認証を取得しており、製品はTelcordia規格とMIL規格を満たしています。1.5µm帯までの幅広いラインナップが特徴です。
バタフライ型・CAN型・モジュール型 SLDsuperlumSUPERLUM社
1992年に創業し、ロシアに拠点を構える、高性能なSLD製品を提供してきたメーカーです。その独自の製品は、アイル ランド工場にて製造され、CEマークを取得しています。可視光~1μm帯のラインナップが充実しています。

 

ベンチトップ型 SLD

画像をクリックすると詳細をご覧いただけます。

図7Nuphoton社製 広帯域光源(準備中)
Nuphoton社による超広帯域光源です。500~2200nmまでの任意の波長でファイバーレーザ光源を製作できます。
(現在準備中)

TNPHENIX 20ModulesINPHENIX社製 広帯域光源モジュール
複数のSLD光源を組み合わせ、中心波長750nm~1640nm、100nm以上の広帯域を実現しております。また、0.3mW~35mWまで様々な出力に対応可能です。詳しくはこちら

図9Amonics社製 広帯域 SLD光源
Amonics社によるSLD光源です。パッケージは、電源に繋ぐだけで簡単にご使用頂けるベンチトップ型・コンパクトなモジュール型の2種類をお選び頂けます。
中心波長は、650 – 1620nm まで幅広いラインナップがございます。詳しくはこちら

Amo SLDAmonics社製 広帯域 SLD光源
CWDM帯域の光源として、通信用途に最適であることに加え、広帯域光源としてOCT用途にも適しております。
ベンチトップ型の製品は、完全なターンキー型デバイスとして、電源に繋ぐだけで簡単にご使用頂けます。詳しくはこちら





 

バタフライ型・CAN型・同軸ピグテール型・モジュール型


図8 INPHENIX社製 SLD


図7 Superlum社製 SLD


 

特徴
  • 豊富なラインナップ:可視光660nm~1700nm
  • 広い発振スペクトル:半値幅 最大 >110nm
  • ハイパワー品取揃え:SMF出力 最大100mW対応
  • 用途に応じたパッケージ形状選択可
  • 空間出力/SM/PMファイバ出力(各種コネクタ選択可)
国際基準認定製品

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AFR社製 光パッシブ部品

Advanced Fiber Resources (Zhuhai) Ltd弊社が日本総代理店を務めるAFR(Advanced Fiber Resource)の製品は、広帯域に対応した製品など柔軟なカスタムを得意とするメーカーです。お気軽にご相談ください。各種部品のOEM生産にもご対応致します。

Agiltron社製 OCT用ファイバプローブ

Miniature OCT Fiber Probe-JD

600-1800nm帯 ミニチュアOCTファイバプローブ

コリメータなど、ファイバとレンズの高効率結合にご使用いただけます。
動作波長が600-1800nmと幅広い帯域に対応しております。     


Time Photonics社製 超高速シングルショット分光計 Rogue Scope

Time Photonics社 超高速シングルショット分光計 RogueScope

Time Photonics社 超高速シングルショット分光計 RogueScope

1秒間に最大1億ショットの時間分解能を誇る高性能分光計です。がん細胞の検知などに応用されています。

◆ 特徴

  • 対応波長:650-10001000-1650nm
  • スペクトル幅:< 650 nm
  • スペクトル分解能力:> 10 pm
  • フレームレート:10⁸ frames/sec まで
  • 外寸:16.73” x 1.72” x12” (inch) 425x 44 x 305 (mm)

◆ アプリケーション例

    • 光ファイバ中の非線形伝播による ノイズの分析・観測
    • 極短時間領域における非可逆的光学 過程の分析・観測
    • 高精度分光 確率過程の分析・評価

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OZ Optics社製 反射減衰量 測定器

OZ Optics 社製 反射減衰量 測定器

OZ Optics 社製 反射減衰量 測定器


OZ Optics社製 ベンチトップ型 後方反射測定器(BM-1000、BM-2000)は、ピグテール型デバイスやファイバ試験などで蓄積されたすべてのリターンロスを計測する測定器です。計測値は、レイリー散乱やコネクタの終端部によって引き起こされたものです。

◆ 特徴

  • 対応波長:6331625nm
  • 出力:≧-3dB
  • 外寸:280x300x100mm
  • タッチスクリーン

◆ アプリケーション例

  • OCT
  • 光パッシブ部品の後方反射量計測
  • 挿入損失計測
  • 終端部の損失計測
  • 質管理
  • 光部品やシステムの問題検知
  • ネットワーク装置

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Phoenix Photonics社製 位相シフタ

位相シフタ

Phoenix Photonics社製 位相シフタ

モジュールについているピンに電圧をかけ位相を動かします。干渉計のセンサ、位相制御等に使用します。

◆ 特徴

  • 対応波長:1300-1600nm
  • 位相シフト量:>50rad、>150rad
  • 時定数:800ms
  • PM対応可能
  • 外寸:70x7x5mm

◆ アプリケーション例

  • 干渉計のセンサ
  • 位相制御

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